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硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片氙燈光老化試驗箱

Q-SUN氙燈光老化試驗箱可用于硅膠,abs,塑料,pvc,薄膜,IC芯片等產品的氙燈耐候老化測試。

特 點

Q-SUN氙燈光老化試驗箱可用于硅膠,abs塑料,pvc,薄膜,IC芯片等產品的氙燈耐候老化測試。

Q-SUN Xe-3-HSCE 硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片氙燈光老化試驗箱圖片1
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硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片氙燈光老化試驗箱產品詳情

產品簡介

氙燈光老化測試是用來測試硅膠產品耐紫外線老化性能的一種測試方法。紫外線是一種特殊的電磁波,具有高能量和高穿透性,可以穿透大氣層,直接照射到地球表面。紫外線輻射會使硅膠產品變脆、變色、變質、變形等現(xiàn)象,影響硅膠產品的使用性能和外觀,因此,需要進行氙燈老化測試來檢測硅膠產品的耐紫外線老化性能。

為了確保IC芯片的可靠性,需要進行氙燈光老化測試,以檢測其對溫度、濕度、電壓等環(huán)境變化的響應性能。氙燈光老化測試可以幫助檢測出IC芯片中可能存在的潛在缺陷,從而確保芯片的可靠性。氙燈光老化測試可以檢測出IC芯片中可能存在的結構性缺陷,從而確保芯片的可靠性;可以幫助檢測出IC芯片中可能存在的電氣性缺陷,從而確保芯片的可靠性。

Q-SUN氙燈光老化試驗箱可用于硅膠,abs塑料,pvc,薄膜,IC芯片等產品的氙燈耐候老化測試。

產品特色

硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片氙燈光老化試驗箱

產品圖

硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片氙燈光老化試驗箱產品結構圖

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Q-SUN Xe-3-HSCE硅膠abs塑料pvc薄膜IC芯片氙燈光老化試驗箱延伸技術資料

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